검사체 고유의 특성 X선을 반도체검출기로 분석하는 방법으로 검사체에 방사선을 투과시키면 원자가 에너지를 흡수하면서 기저상태에서 여기상태로 들뜨게 되고,
다시 기저상태로 되돌아 올 때 원자 고유의 특성 X선을 방출한다. 이 원리를 이용하여 검사체의 성분이나 함유량을 검사한다.

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• Certified Reference Material

  Values listed in wt.% with estimated uncertainties

  AI

  0.0134±0.0005

  As

  0.0047±0.0002

  B

  0.0003±0.0001

  Ca

  0.0010±0.0001

  Co

  0.0089±0.0002

  Cr

  1.086±0.001

  Cu

  0.174±0.001

  Fe*

  97.22±0.01

  Mn

  0.331±0.001

  Mo

  0.478±0.002

  Nb

  0.0017±0.0001

  Ni

  0.125±0.001

  P

  0.0063±0.0001

  Pb

  0.0022±0.0001

  S

  0.0038±0.0005

  Sb

  0.0025±0.0001

  Si

  0.559±0.004

  Sn

  0.0087±0.0001

  Ta

  0.0012±0.0001

  Ti

  0.0019±0.0001

  V

  0.0056±0.0001

  W

  0.0035±0.0001